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Volumn 42, Issue 5, 1996, Pages 757-775

La densidad de estados y el coeficiente de absorción en películas de silicio amorfo hidrogenado intrínseco

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EID: 0342312178     PISSN: 0035001X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.