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Volumn 32, Issue 6, 2003, Pages 585-587

A close encounter with DNA

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Atomic force microscopy; DNA

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DNA;

EID: 0242473905     PISSN: 01757571     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s00249-003-0307-x     Document Type: Article
Times cited : (9)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.