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Volumn , Issue , 2003, Pages 623-628

ATE Obsolescence Solutions; Costs and Benefits

(2)  Weaver, Pat a   Ford, Melissa a  

a NONE

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AIRCRAFT; AUTOMATIC TESTING; OBSOLESCENCE;

EID: 0142153615     PISSN: 07347510     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.