Pinned synthetic ferrimagnets with perpendicular anisotropy and tuneable exchange bias

Applied Physics Letters

Volumn 83, Issue 9, 2003, Pages 1800-1802

  Sort, J ^a   Rodmacq, B ^a   Auffret, S ^a   Dieny, B ^a  

^a CEA GRENOBLE   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRON TUNNELING; HALL EFFECT; MAGNETIC ANISOTROPY; MAGNETIZATION; MULTILAYERS;

PINNING ENERGY;

FERRIMAGNETIC MATERIALS;

EID: 0141716805     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1606495     Document Type: Article

References (19)

1. B. Dieny, V. S. Speriosu, S. S. P. Parkin, B. A. Gurney, D. R. Wilhoit, and D. Mauri, Phys. Rev. B 43, 1297 (1991).
2. J. L. Leal and M. H. Kryder, J. Appl. Phys. 83, 3720 (1998); J. G. Zhu, IEEE Trans. Magn. 35, 6807 (1999).
3. J. L. Leal and M. H. Kryder, J. Appl. Phys. 83, 3720 (1998); J. G. Zhu, IEEE Trans. Magn. 35, 6807 (1999).
4. S. S. P. Parkin, N. More, and K. P. Roche, Phys. Rev. Lett. 64, 2304 (1990).
5. F. Garcia, F. Fettar, S. Auffret, B. Rodmacq, and B. Dieny, J. Appl. Phys. 93, 8397 (2003).
6. T. L. Kirk, O. Hellwig, and E. E. Fullerton, Phys. Rev. B 65, 224426 (2002).
7. B. Dieny, M. Li, S. H. Liao, C. Horng, and K. Ju, J. Appl. Phys. 87, 3415 (2000); K. Y. Kim, S. H. Jang, K. H. Shin, H. J. Kim, and T. Kang, ibid. 89, 7612 (2001); K. Inomata, T. Nozaki, N. Tezuka, and S. Sugimoto, Appl. Phys. Lett. 81, 310 (2002).
8. B. Dieny, M. Li, S. H. Liao, C. Horng, and K. Ju, J. Appl. Phys. 87, 3415 (2000); K. Y. Kim, S. H. Jang, K. H. Shin, H. J. Kim, and T. Kang, ibid. 89, 7612 (2001); K. Inomata, T. Nozaki, N. Tezuka, and S. Sugimoto, Appl. Phys. Lett. 81, 310 (2002).
9. B. Dieny, M. Li, S. H. Liao, C. Horng, and K. Ju, J. Appl. Phys. 87, 3415 (2000); K. Y. Kim, S. H. Jang, K. H. Shin, H. J. Kim, and T. Kang, ibid. 89, 7612 (2001); K. Inomata, T. Nozaki, N. Tezuka, and S. Sugimoto, Appl. Phys. Lett. 81, 310 (2002).
10. M. M. H. Willekens et al., Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 313, 129 (1993).
11. O. Hellwig, T. L. Kirk, J. B. Kortright, A. Beger, and E. E. Fullerton, Nat. Mater. 2, 112 (2003).
12. For recent reviews on exchange bias, see J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999); A. E. Berkowitz and K. Takano, ibid. 200, 552 (1999); R. L. Stamps, J. Phys. D 33, R247 (2000); M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 234, 584 (2001).
13. For recent reviews on exchange bias, see J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999); A. E. Berkowitz and K. Takano, ibid. 200, 552 (1999); R. L. Stamps, J. Phys. D 33, R247 (2000); M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 234, 584 (2001).
14. For recent reviews on exchange bias, see J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999); A. E. Berkowitz and K. Takano, ibid. 200, 552 (1999); R. L. Stamps, J. Phys. D 33, R247 (2000); M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 234, 584 (2001).
15. For recent reviews on exchange bias, see J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999); A. E. Berkowitz and K. Takano, ibid. 200, 552 (1999); R. L. Stamps, J. Phys. D 33, R247 (2000); M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 234, 584 (2001).
16. C. L. Canedy, X. W. Li, and G. Xiao, J. Appl. Phys. 81, 5367 (1997).
17. S. Maat, K. Takano, S. S. P. Parkin, and E. E. Fullerton, Phys. Rev. Lett. 87, 087202 (2001).
18. F. Garcia, J. Sort, B. Rodmacq, S. Auffret, and B. Dieny, Appl. Phys. Lett. (submitted).
19. F. Garcia, J. Moritz, F. Ernult, S. Auffret, B. Rodmacq, B. Dieny, J. Camarero, Y. Pennec, S. Pizzini, and J. Vogel, IEEE Trans. Magn. 38, 2730 (2002).