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Volumn 7, Issue 9, 1974, Pages 1671-1692

Effect of random defects on the critical behaviour of ising models

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EID: 0042974048     PISSN: 00223719     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0022-3719/7/9/009     Document Type: Article
Times cited : (2081)

References (29)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.