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Volumn 119, Issue 6, 2000, Pages 3071-3083

Speckle interferometry at the US naval observatory. V.

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Binaries: General; Binaries: Visual; Techniques: Interferometric

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EID: 0042960450     PISSN: 00046256     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1086/301373     Document Type: Article
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References (7)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.