메뉴 건너뛰기




Volumn 67, Issue 7, 1996, Pages 2652-2653

Electrometer preamplifier for scanning tunneling microscopy

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0042923966     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1147185     Document Type: Article
Times cited : (7)

References (10)
  • 2
    • 0006370056 scopus 로고
    • A. Cricenti, R. Generosi, and S. Selci, Rev. Sci. Instrum. 65, 80 (1994); X. Liu, S. T. Smith, and D. G. Chetwynd, ibid. 64, 3161 (1993); A. Hammiche, Y. Wei, I. H. Wilson, and R. P. Webb, ibid. 62, 3010 (1991); S. Grafström, J. Kowalski, and R. Neumann, Meas. Sci. Technol. 1, 139 (1990).
    • (1994) Rev. Sci. Instrum. , vol.65 , pp. 80
    • Cricenti, A.1    Generosi, R.2    Selci, S.3
  • 3
    • 4243122969 scopus 로고
    • A. Cricenti, R. Generosi, and S. Selci, Rev. Sci. Instrum. 65, 80 (1994); X. Liu, S. T. Smith, and D. G. Chetwynd, ibid. 64, 3161 (1993); A. Hammiche, Y. Wei, I. H. Wilson, and R. P. Webb, ibid. 62, 3010 (1991); S. Grafström, J. Kowalski, and R. Neumann, Meas. Sci. Technol. 1, 139 (1990).
    • (1993) Rev. Sci. Instrum. , vol.64 , pp. 3161
    • Liu, X.1    Smith, S.T.2    Chetwynd, D.G.3
  • 4
    • 0040055870 scopus 로고
    • A. Cricenti, R. Generosi, and S. Selci, Rev. Sci. Instrum. 65, 80 (1994); X. Liu, S. T. Smith, and D. G. Chetwynd, ibid. 64, 3161 (1993); A. Hammiche, Y. Wei, I. H. Wilson, and R. P. Webb, ibid. 62, 3010 (1991); S. Grafström, J. Kowalski, and R. Neumann, Meas. Sci. Technol. 1, 139 (1990).
    • (1991) Rev. Sci. Instrum. , vol.62 , pp. 3010
    • Hammiche, A.1    Wei, Y.2    Wilson, I.H.3    Webb, R.P.4
  • 5
    • 0025386064 scopus 로고
    • A. Cricenti, R. Generosi, and S. Selci, Rev. Sci. Instrum. 65, 80 (1994); X. Liu, S. T. Smith, and D. G. Chetwynd, ibid. 64, 3161 (1993); A. Hammiche, Y. Wei, I. H. Wilson, and R. P. Webb, ibid. 62, 3010 (1991); S. Grafström, J. Kowalski, and R. Neumann, Meas. Sci. Technol. 1, 139 (1990).
    • (1990) Meas. Sci. Technol. , vol.1 , pp. 139
    • Grafström, S.1    Kowalski, J.2    Neumann, R.3
  • 8
    • 85033833080 scopus 로고    scopus 로고
    • MicroSim Corporation, Irvine, CA
    • MicroSim Corporation, Irvine, CA.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.