Nouvel appareillage de diffraction X pour l'analyse de l'état mécanique (contraintes et microdéformations) de films minces nanocristallins

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 6, Issue 4, 1996, Pages

  Goudeau, Ph ^a   Badawi, K F ^a   Naudon, A ^a   Jaulin, M ^a   Durand, N ^a   Bimbault, L ^a   Branger, V ^a  

^a UNIVERSITÉ DE POITIERS   (France)

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EID: 0042785654     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:1996417     Document Type: Article

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