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Volumn 16, Issue 17, 1983, Pages 3373-3388

Lucky-drift mechanism for impact ionisation in semiconductors

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EID: 0042755866     PISSN: 00223719     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0022-3719/16/17/020     Document Type: Article
Times cited : (179)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.