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Volumn 27, Issue 3, 1975, Pages 147-148

Hot-carrier instability in IGFET's

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EID: 0042608225     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.88387     Document Type: Article
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References (8)
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    • This effect was brought to our attention by R. Verkuil, IBM, Hopewell Junction, N.Y.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.