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Volumn 36, Issue 16, 2003, Pages 3477-3486

The recollision model applied to strong-field double ionization of C +

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IONIZATION; LASER BEAM EFFECTS; MATHEMATICAL MODELS; POSITIVE IONS;

EID: 0042281924     PISSN: 09534075     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0953-4075/36/16/309     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (21)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.