메뉴 건너뛰기




Volumn 53, Issue 4, 1996, Pages 3408-3413

Self-organized criticality in a hierarchical model of defects development

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0041938365     PISSN: 1063651X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevE.53.3408     Document Type: Article
Times cited : (11)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.