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Volumn 9, Issue SUPPL. 2, 2003, Pages 148-149

Examining the possibilities and pitfalls of three dimensional energy filtered transmission electron microscopy (3D-EFTEM)

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EID: 0041923641     PISSN: 14319276     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1017/s1431927603440233     Document Type: Conference Paper
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References (5)
  • 5
    • 0032007473 scopus 로고    scopus 로고
    • P. Warbichler et al., Micron 29 (1) (1998) 63.
    • (1998) Micron , vol.29 , Issue.1 , pp. 63
    • Warbichler, P.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.