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Volumn 68, Issue 2, 2001, Pages 94-100

Components and Systems for the 3D-Measurement of Microstructures;Komponenten und Systeme für die 3D-Messung von Mikrostrukturen

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NEW COMPONENTS;

EID: 0041469801     PISSN: 01718096     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (1)

References (2)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.