Simple chemical method for forming silver surfaces with controlled grain sizes for surface plasmon experiments

Langmuir

Volumn 19, Issue 17, 2003, Pages 6857-6861

  Saito, Y ^a   Wang, J J ^a   Batchelder, D N ^a   Smith, D A ^a  

^a UNIVERSITY OF LEEDS   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

MIRROR REACTION;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTROMAGNETISM; GRAIN SIZE AND SHAPE; RAMAN SPECTROSCOPY; SUBSTRATES; SURFACE PLASMON RESONANCE;

METALLIC FILMS;

EID: 0041387364     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la0301240     Document Type: Article

References (37)

1. Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. Handbook of vibrational spectroscopy; 2002.
2. Lavers, C. R.; Harris, R. D.; Hao, S.; Wilkinson, J. S.; O'Dwyer, K.; Brust, M.; Schiffrin, D. J. J. Electroanal. Chem. 1995, 387, 11-22.
3. Andersen, P. C.; Rowlen, K. L. Appl. Spectrosc. 2002, 56, 124A-135A.
4. Hamann, H. F.; Gallagher, A.; Nesbitt, D. J. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 1469-1471.
5. Sanchez, E. J.; Novotny, L.; Xie, X. S. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4014-4017.
6. Hayazawa, N.; Inoue, Y.; Sekkat, Z.; Kawata, S. Opt. Commun. 2000, 183, 333-336.
7. Anderson, M. S. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3130-3132.
8. Stöckle, R. M.; Suh, Y. D.; Deckert, V.; Zenobi, R. Chem. Phys. Lett. 2000, 318, 131-136.
9. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Itzkan, I.; Dasari, R. P.; Feld, M. S. Curr. Sci. 1999, 77, 915-925.
10. Sohlegel, V. L.; Cotton, T. M. Anal. Chem. 1991, 63, 241-247.
11. Lu, Y.; Xue, G.; Dong, J. Appl. Surf. Sci. 1993, 68, 485-489.
12. Hulteen, J. C.; Van Duyne, R. P. J. Vac. Sci. Technol., A 1995, 13, 1553-1558.
13. Grabar, K. C.; Freeman, R. G.; Hommer, M. B.; Natan, M. J. Anal. Chem. 1995, 67, 735-753.
14. Bar, G.; Rubin, S.; Cutts, R. W.; Taylor, T. N.; Zawodzinski, T. A. Langmuir 1996, 12, 1172-1179.
15. Weissenbacher, N.; Gobel, R.; Kellner, R. Vib. Spectrosc. 1996, 12, 189-195.
16. Norrod, K. L.; Sudnik, L. M.; Rousell, D.; Rowlen, K. L. Appl. Spectrosc. 1997, 51, 994-1001.
17. Bright, R. M.; Musick, M. D.; Natan, M. J. Langmuir 1998, 14, 5695-5701.
18. Vogel, E.; Kiefer, W.; Deckert, V.; Zeisel, D. J. Raman Spectrosc. 1998, 29, 693-702.
19. Zhang, J.; Zhao, J.; He, H.; Zhang, H.; Li, H.; Liu, Z. Langmuir 1998, 14, 5521-5525.
20. Sauer, G.; Nickel, U.; Schneider, S. J. Raman Spectrosc. 2000, 31, 359-363.
21. Maoz, R.; Frydman, E.; Cohen, R.; Sajiv, J. Adv. Mater. 2000, 12, 424.
22. Stöckle, R. M.; Deckert, V.; Fokas, C.; Zenobi, R. Appl. Spectrosc. 2000, 54, 1577-1583.
23. Kobayashi, Y.; Salgueiriño-Maceira, V.; Liz-Marzán, M. L. Chem. Mater 2001, 13, 1630-1633.
24. Nie, C. S.; Feng, Z. R. Appl. Spectrosc. 2002, 56, 300-305.
25. Saito, Y.; Wang, J. J.; Smith, D. A.; Batchelder, D. N. Langmuir 2002, 18, 2959-2961.
26. Hu, J. W.; Zhao, B.; Xu, W. Q.; Fan, Y. G.; Li, B. F.; Ozaki Y. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 6500-6506.
27. Leverette, C. L.; Shubert, V. A.; Wade, T. L.; Varazo, K.; Dluhy, R. A. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8747-8755.
28. Nie, S.; Emory, S. Science 1997, 275, 1102-1106.
29. Rodes, A.; Orts, J. M.; Pérez, J. M.; Feliu, J. M.; Aldaz, A. Electrochem. Commun. 2003, 5, 56-60.
30. Miyake, H.; Ye, S.; Osawa, M. Electrochem. Commun. 2002, 4, 973-977.
31. Michaels, A. M.; Jiang, J.; Brus, L. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11965-11971.
32. Gersten, J. I.; Nitzan, A. Surf. Sci. 1985, 158, 165-189.
33. García-Jidal, F. J.; Pendry, J. B. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 1163-1166.
34. Jasperse, J. R.; Kahan, A.; Plendl, J. N.; Mira, S. S. Phys. Rev. 1966, 146, 526-542.
35. Bohren, C. F. Absorption and Scattering of Light by Small Particles; Wiley: New York, 1983; Chapter 4, p 12.
36. Johnson, P. B.; Christy, R. W. Phys. Rev. B 1972, 6, 4370-4379.
37. Kawabata, A.; Kubo, R. J. Phys. Soc. Jpn. 1966, 21, 1765-1770.