Microstructured polymer tips for scanning near-field optical microscopy

Ultramicroscopy

Volumn 71, Issue 1-4, 1998, Pages 107-110

  Stürmer, Herbert ^a,b   Michael Kohler J ^a   M Jovin, Thomas ^b  

^a LEIBNIZ INSTITUTE OF PHOTONIC TECHNOLOGY   (Germany)

^b MAX PLANCK INSTITUTE FOR BIOPHYSICAL CHEMISTRY   (Germany)

Author keywords

Atomic force microscopy; Polymer tips; Reactive ion etching; Scanning near field optical microscopy; Scanning probe microscopy

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; OPTICAL MICROSCOPY; OPTICAL SENSORS; POLYMERS; REACTIVE ION ETCHING;

APERTURELESS SENSOR; ATOMIC FORCE DISTANCE CONTROL; FLUORESCENT TIPS; POLYMERIC CANTILEVER; SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPY; SCANNING PROBE MICROSCOPY;

OPTICAL FIBERS;

POLY(METHYL METHACRYLATE); POLYMER;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; FLUORESCENCE; SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPY; SENSOR;

EID: 0041354830     PISSN: 03043991     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0304-3991(97)00097-1     Document Type: Article

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