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Volumn 206, Issue 1, 1998, Pages

Average Gibbs free energy per thermally excited atomic defect in ordered compounds

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EID: 0041193170     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(sici)1521-3951(199803)206:13.0.co;2-m     Document Type: Article
Times cited : (2)

References (5)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.