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Volumn 206, Issue 1, 1998, Pages 125-130

Doppler-shifted self-reflection from a semiconductor

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EID: 0041193159     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-3951(199803)206:1<125::AID-PSSB125>3.0.CO;2-8     Document Type: Article
Times cited : (33)

References (17)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.