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Volumn 30, Issue 2, 1998, Pages 223-228

Determination of uncertainties for emissivity measurements in the temperature range 200-800 °C

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EID: 0041175640     PISSN: 00181544     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1068/htec173     Document Type: Article
Times cited : (13)

References (3)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.