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Volumn 109, Issue 9, 1996, Pages 1261-1268

New developments on silicon drift detectors

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EID: 0040748087     PISSN: 03693546     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/BF02773512     Document Type: Article
Times cited : (4)

References (11)
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    • Company Dr. Bernd Struck, P.O.Box 1141, D-22886 Tangstedt, Germany
    • Company Dr. Bernd Struck, P.O.Box 1141, D-22886 Tangstedt, Germany.
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    • LabVIEW® 3.2 (National Instruments®)
    • LabVIEW® 3.2 (National Instruments®).


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.