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Volumn 58, Issue 4, 1996, Pages 383-388

Electronic structure of Al, P, S, and Cl impurities in silicon

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EID: 0040733829     PISSN: 00207608     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(sici)1097-461x(1996)58:4<383::aid-qua7>3.0.co;2-u     Document Type: Article
Times cited : (4)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.