Theoretical study of space focusing in linear time-of-flight mass spectrometers

Review of Scientific Instruments

Volumn 72, Issue 2, 2001, Pages 1330-1338

  Seccombe, D P ^a   Reddish, T J ^a  

^a NEWCASTLE UNIVERSITY   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0040160570     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1336824     Document Type: Article

References (29)

1. J. M. B. Bakker, Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 6, 291 (1971).
2. W. P. Poschenrieder, Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 6, 413 (1971).
3. W. P. Poschenrieder, Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 9, 357 (1972).
4. B. A. Mamyrim, V. I. Karataev, D. V. Shmikk, and V. A. Zagulin, Sov. Phys. JETP 37, 45 (1973).
5. T. Bergmann, T. P. Martin, and H. Schaber, Rev. Sci. Instrum. 61, 2592 (1990).
6. W. S. Crane and A. P. Mills, Rev. Sci. Instrum. 56, 1723 (1985).
7. L. D. Hulett, Jr., D. L. Donohue, and T. A. Lewis, Rev. Sci. Instrum. 62, 2131 (1991).
8. N. L. Marable and G. Sanzone, Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 13, 185 (1974).
9. J. A. Browder, R. L. Miller, W. A. Thomas, and G. Sanzone, Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 37, 99 (1981).
10. D. J. Trevor, L. D. Van Woerkom, and R. R. Freeman, Rev. Sci. Instrum. 60, 1051 (1989).
11. D. Price and G. J. Milnes, Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 99, 1 (1990).
12. J. Kissell, Adv. Mass Spectrom. 10, 175 (1986).
13. K. B. Davis, M. O. Mewes, M. R. Andrews, N. J. van Druten, D. S. Durfee, D. M. Kurn, and W. Ketterle, Phys. Rev. Lett. 75, 3969 (1995).
14. J. N. Ullom, M. Frank, J. M. Horn, S. E. Labov, K. Langray, and W. H. Benner, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 444, 385 (2000).
15. W. C. Wiley and I. H. McLaren, Rev. Sci. Instrum. 76, 1150 (1955).
16. R. Moshammer, M. Unverzagt, W. Schmitt, J. Ullrich, and H. Schmidt-Bocking, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 108, 425 (1996).
17. J. Ullrich, R. Moshammer, R. Dorner, O. Jagutzki, V. Mergel, H. Schmidt-Böcking, and L. Speilberger, J. Phys. B 30, 2917 (1997).
18. J. H. D. Eland, Meas. Sci. Technol. 5, 1501 (1994).
19. M. Lavollée, Rev. Sci. Instrum. 70, 2968 (1999).
20. A. Huetz and J. Mazeau, Phys. Rev. Lett. 85, 530 (2000).
21. T. Baer, Annu. Rev. Phys. Chem. 40, 637 (1989).
22. P. B. Armentrout and T. Baer, J. Phys. Chem. 100, 12866 (1996).
23. C. W. S. Conover, Y. J. Twu, Y. A. Yang, and L. A. Bloomfield, Rev Sci. Instrum. 60, 1069 (1989).
24. D. W. Chandler and P. L. Houston, J. Chem. Phys. 87, 1445 (1987).
25. T. Kinugawa and T. Arikawa, Rev. Sci. Instrum. 63, 3599 (1992).
26. J. H. D. Eland, Meas. Sci. Technol. 4, 1522 (1993).
27. S. K. Srivastava, I. Iga, and M. V. V. S. Rao, Meas. Sci. Technol. 6, 1379 (1995).
28. J. L. Franklin, P. M. Hierl, and D. A. Whan, J. Chem. Phys. 47, 3148 (1967).
29. R. B. Opsal, K. G. Owens, and J. P. Reilly, Anal. Chem. 57, 1884(1985).