Vicinal surfaces of Au(110) and Ag(110) investigated by scanning tunneling microscopy

Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Volumn 14, Issue 2, 1996, Pages 1149-1152

  Li, J T ^a   Berndt, R ^a   Gaisch, R ^a   Schneider, W D ^a  

^a UNIVERSITY OF LAUSANNE   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0039889291     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.588418     Document Type: Article

References (23)

1. P. J. Estrup, in Chemistry and Physics of Solid Surfaces V, Springer Series Chem. Phys., Vol. 35, edited by R. Vanselow and R. Howe (Springer, Berlin, 1984), p. 205.
2. G. A. Held, D. M. Goodstein, R. M. Feenstra, M. J. Ramstad, D. Y. Noh, and R. J. Birgeneau, Phys. Rev. B 48, 8458 (1993).
3. X. Tong and P. A. Bennett, Phys. Rev. Lett. 67, 101 (1991).
4. S. G. J. Mochrie, Phys. Rev. Lett. 59, 304 (1987); B. M. Ocko and S. G. J. Mochrie, Phys. Rev. B 38, 7378 (1988).
5. S. G. J. Mochrie, Phys. Rev. Lett. 59, 304 (1987); B. M. Ocko and S. G. J. Mochrie, Phys. Rev. B 38, 7378 (1988).
6. G. A. Held, J. L. Jordan-Sweet, P. M. Horn, A. Mak, and R. J. Birgeneau, Phys. Rev. Lett. 59, 2075 (1987).
7. K. S. Liang, E. B. Sirota, K. L. D'Amico, G. J. Hughes, and S. K. Sinha, Phys. Rev. Lett. 59, 2447 (1987); B. Salanon, F. Fabre, J. Lapoujoulade, and W. Seike, Phys. Rev. B 38, 7385 (1988).
8. K. S. Liang, E. B. Sirota, K. L. D'Amico, G. J. Hughes, and S. K. Sinha, Phys. Rev. Lett. 59, 2447 (1987); B. Salanon, F. Fabre, J. Lapoujoulade, and W. Seike, Phys. Rev. B 38, 7385 (1988).
9. E. H. Conrad, L. R. Allen, D. L. Blanchard, and T. Engel, Surf. Sci. 187, 265 (1987); I. K. Robinson, E. H. Conrad, and D. S. Reed, J. Phys. (Paris) 51, 103 (1990).
10. E. H. Conrad, L. R. Allen, D. L. Blanchard, and T. Engel, Surf. Sci. 187, 265 (1987); I. K. Robinson, E. H. Conrad, and D. S. Reed, J. Phys. (Paris) 51, 103 (1990).
11. R. J. Phaneuf and E. D. Williams, Phys. Rev. Lett. 58, 2563 (1987); D. Y. Noh, K. I. Blum, M. J. Ramstad, and R. J. Birgeneau, Phys. Rev. B 44, 10969 (1991).
12. R. J. Phaneuf and E. D. Williams, Phys. Rev. Lett. 58, 2563 (1987); D. Y. Noh, K. I. Blum, M. J. Ramstad, and R. J. Birgeneau, Phys. Rev. B 44, 10969 (1991).
13. A. Bartolini, F. Ercolessi, and E. Tosatti, Phys. Rev. Lett. 63, 872 (1989).
14. J. S. Ozcomert, W. W. Pai, N. C. Bartelt, and J. E. Reutt-Robey, Surf. Sci. 293, 183 (1993).
15. R. Koch, M. Borbonus, O. Haase, and K. H. Rieder, Appl. Phys. A 55, 417 (1992).
16. R. Koch, M. Borbonus, O. Haase, and K. H. Rieder, Phys. Rev. Lett. 67, 3416 (1991).
17. R. Gaisch, J. K. Gimzewski, B. Reihl, R. R. Schiittier, M. Tschudy, and W.-D. Schneider, Ultramicroscopy 42-44, 1621 (1992).
18. J. T. Li, R. Berndt, and W.-D. Schneider, Appl. Phys. Lett. 67, 14 (1995).
19. J. K. Gimzewski, R. Berndt, and R. R. Schlittler, Surf. Sci. 247, 327 (1991).
20. M. Giesen, J. Frohn, M. Poensgen, J. F. Wolf, and H. Ibach, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 2597 (1992).
21. M. Giesen-Seibert, R. Jentjens, M. Poensgen, and H. Ibach, Phys. Rev. Lett. 71, 3521 (1993).
22. J. S. Ozcomert, W. W. Pai, N. C. Bartelt, and J. E. Reutt-Robey, Phys. Rev. Lett. 72, 258 (1994).
23. J. T. Li, R. Berndt, and W.-D. Schneider, Phys. Rev. Lett, (to be published).