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Volumn 54, Issue 16, 1996, Pages 11693-11700

Crystal growth and characterization of Cu-intercalated misfit-layer compounds

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EID: 0039768218     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.11693     Document Type: Article
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References (27)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.