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Volumn 78, Issue , 1996, Pages 107-110

Si K and Co L3 XANES study of thin-film CoSi2

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EID: 0039464479     PISSN: 03682048     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/s0368-2048(96)80038-7     Document Type: Article
Times cited : (5)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.