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Volumn 37, Issue 4, 1980, Pages 371-373

Picosecond optoelectronic detection, sampling, and correlation measurements in amorphous semiconductors

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EID: 0039310018     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.91947     Document Type: Article
Times cited : (189)

References (12)
  • 6
    • 84951363075 scopus 로고    scopus 로고
    • Available from Hemlock Semiconductors, Hemlock, Mich.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.