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Volumn 43, Issue 2, 1996, Pages 116-125

Surface/interface X-ray diffraction

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Interfaces; Surfaces; X ray diffraction

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EID: 0038971403     PISSN: 02540584     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0254-0584(95)01618-5     Document Type: Review
Times cited : (11)

References (25)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.