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Advanced Engineering Materials

Volumn 5, Issue 5, 2003, Pages 323-329

The meaning of size obtained from broadened x-ray diffraction peaks

(1) Ungár, Tamás a

a EÖTVÖS LORÁND UNIVERSITY (Hungary)

Author keywords

[No Author keywords available]

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CRYSTAL MICROSTRUCTURE; DISLOCATIONS (CRYSTALS); POWDERS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

CRYSTALLITE SIZE; X RAY DIFFRACTION PEAK PROFILE ANALYSIS;

GRAIN SIZE AND SHAPE;

EID: 0038804172 PISSN: 14381656 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1002/adem.200310086 Document Type: Article

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- Stolyaroy, V.V.¹ Zhu, Y.T.² Alevandrov, I.V.³ Lowe, T.C.⁴ Valiev, R.Z.⁵

69
- 0037275791
- J. Gubicza, I. C. Dragomir, G. Ribárik, Y. T. Zhu, R. Z. Valiev, T. Ungár, Mater. Sci. Forum 2003, 414-415, 229.
- (2003) Mater. Sci. Forum , vol.414-415 , pp. 229
- Gubicza, J.¹ Dragomir, I.C.² Ribárik, G.³ Zhu, Y.T.⁴ Valiev, R.Z.⁵ Ungár, T.⁶

70
- 0038141699
- submitted
- Y. T. Zhu, J. Y. Huang, J. Gubicza, T. Ungár, Y. M. Wang, E. Ma, R. Z. Valiev, J. Mater. Res., submitted
- J. Mater. Res.
- Zhu, Y.T.¹ Huang, J.Y.² Gubicza, J.³ Ungár, T.⁴ Wang, Y.M.⁵ Ma, E.⁶ Valiev, R.Z.⁷

71
- 0000602369
- T. Ungár, A. Revész, A. Borbély, J. Appl. Cryst. 1998, 31, 554.
- (1998) J. Appl. Cryst. , vol.31 , pp. 554
- Ungár, T.¹ Revész, A.² Borbély, A.³

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.