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Volumn 53, Issue 3, 2003, Pages 223-230

Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial films

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EID: 0038780096 PISSN: 03230465 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: None Document Type: Conference Paper

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.