-
1
-
-
21544436078
-
-
Burrows, P. E.; Bulovic, V.; Forrest, S. R.; Sapochak, L. S.; McCarty, D. M.; Thompson, M. E. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 2922-2924.
-
(1994)
Appl. Phys. Lett.
, vol.65
, pp. 2922-2924
-
-
Burrows, P.E.1
Bulovic, V.2
Forrest, S.R.3
Sapochak, L.S.4
McCarty, D.M.5
Thompson, M.E.6
-
2
-
-
0029344840
-
-
Hamada, Y.; Sano, T.; Shibata, K.; Kuroki, K. Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 1995, 34, L824-L826.
-
(1995)
Jpn. J. Appl. Phys. Part 2
, vol.34
-
-
Hamada, Y.1
Sano, T.2
Shibata, K.3
Kuroki, K.4
-
3
-
-
0030287389
-
-
McElvain, J.; Antoniadis, H.; Hueschen, M. R.; Miller, J. N.; Roitman, D. M.; Sheats, J. R.; Moon, R. L. J. Appl. Phys. 1996, 80, 6002-6007.
-
(1996)
J. Appl. Phys.
, vol.80
, pp. 6002-6007
-
-
McElvain, J.1
Antoniadis, H.2
Hueschen, M.R.3
Miller, J.N.4
Roitman, D.M.5
Sheats, J.R.6
Moon, R.L.7
-
4
-
-
0030573843
-
-
VanSlyke, S. A.; Chen, C. H.; Tang, C. W. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2160-2162.
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.69
, pp. 2160-2162
-
-
VanSlyke, S.A.1
Chen, C.H.2
Tang, C.W.3
-
5
-
-
0001746946
-
-
Aziz, H.; Popovic, Z.; Tripp, C. P.; Hu, N. X.; Hor, A. M.; Xu, G. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 2642-2644.
-
(1998)
Appl. Phys. Lett.
, vol.72
, pp. 2642-2644
-
-
Aziz, H.1
Popovic, Z.2
Tripp, C.P.3
Hu, N.X.4
Hor, A.M.5
Xu, G.6
-
6
-
-
0031998188
-
-
Aziz, H.; Popovic, Z.; Xie, S.; Hor, A. M.; Hu, N. X.; Tripp, C.; Xu, G. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 756-758.
-
(1998)
Appl. Phys. Lett.
, vol.72
, pp. 756-758
-
-
Aziz, H.1
Popovic, Z.2
Xie, S.3
Hor, A.M.4
Hu, N.X.5
Tripp, C.6
Xu, G.7
-
7
-
-
0033583208
-
-
Aziz, H.; Popovic, Z. D.; Hu, N. X.; Hor, A. M.; Xu, G. Science 1999, 283, 1900-1902.
-
(1999)
Science
, vol.283
, pp. 1900-1902
-
-
Aziz, H.1
Popovic, Z.D.2
Hu, N.X.3
Hor, A.M.4
Xu, G.5
-
8
-
-
0033726081
-
-
Yamada, T.; Zou, D. C.; Jeong, H.; Akaki, Y.; Tsutsui, T. Synth. Met. 2000, 111, 237-240.
-
(2000)
Synth. Met.
, vol.111
, pp. 237-240
-
-
Yamada, T.1
Zou, D.C.2
Jeong, H.3
Akaki, Y.4
Tsutsui, T.5
-
10
-
-
0035477011
-
-
Kolosov, D.; English, D. S.; Bulovic, V.; Barbara, P. F.; Forrest, S. R.; Thompson, M. E. J. Appl. Phys. 2001, 90, 3242-3247.
-
(2001)
J. Appl. Phys.
, vol.90
, pp. 3242-3247
-
-
Kolosov, D.1
English, D.S.2
Bulovic, V.3
Barbara, P.F.4
Forrest, S.R.5
Thompson, M.E.6
-
11
-
-
0035297946
-
-
Schaer, M.; Nuesch, F.; Berner, D.; Leo, W.; Zuppiroli, L. Adv. Funct. Mater. 2001, 11, 116-121.
-
(2001)
Adv. Funct. Mater.
, vol.11
, pp. 116-121
-
-
Schaer, M.1
Nuesch, F.2
Berner, D.3
Leo, W.4
Zuppiroli, L.5
-
12
-
-
0029359942
-
-
Pei, Q. B.; Yu, G.; Zhang, C.; Yang, Y.; Heeger, A. J. Science 1995, 269, 1086-1088.
-
(1995)
Science
, vol.269
, pp. 1086-1088
-
-
Pei, Q.B.1
Yu, G.2
Zhang, C.3
Yang, Y.4
Heeger, A.J.5
-
13
-
-
0029893208
-
-
Pei, Q. B.; Yang, Y.; Yu, G.; Zhang, C.; Heeger, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3922-3929.
-
(1996)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.118
, pp. 3922-3929
-
-
Pei, Q.B.1
Yang, Y.2
Yu, G.3
Zhang, C.4
Heeger, A.J.5
-
14
-
-
0032074862
-
-
Manzanares, J. A.; Reiss, H.; Heeger, A. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 4327-4336.
-
(1998)
J. Phys. Chem. B
, vol.102
, pp. 4327-4336
-
-
Manzanares, J.A.1
Reiss, H.2
Heeger, A.J.3
-
15
-
-
12944275673
-
-
deMello, J. C.; Halls, J. J. M.; Graham, S. C.; Tessler, N.; Friend, R. H. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 421-424.
-
(2000)
Phys. Rev. Lett.
, vol.85
, pp. 421-424
-
-
DeMello, J.C.1
Halls, J.J.M.2
Graham, S.C.3
Tessler, N.4
Friend, R.H.5
-
17
-
-
0034927722
-
-
Armstrong, N. R.; Wightman, R. M.; Gross, E. M. Annu. Rev. Phys. Chem. 2001, 52, 391-422.
-
(2001)
Annu. Rev. Phys. Chem.
, vol.52
, pp. 391-422
-
-
Armstrong, N.R.1
Wightman, R.M.2
Gross, E.M.3
-
19
-
-
0542374952
-
-
deMello, J. C.; Tessler, N.; Graham, S. C.; Friend, R. H. Phys. Rev. B 1998, 57, 12951-12963.
-
(1998)
Phys. Rev. B
, vol.57
, pp. 12951-12963
-
-
DeMello, J.C.1
Tessler, N.2
Graham, S.C.3
Friend, R.H.4
-
20
-
-
0030910123
-
-
Maness, K. M.; Masui, H.; Wightman, R. M.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 3987-3993.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.119
, pp. 3987-3993
-
-
Maness, K.M.1
Masui, H.2
Wightman, R.M.3
Murray, R.W.4
-
21
-
-
0000552018
-
-
Lee, J. K.; Yoo, D.; Rubner, M. F. Chem. Mater. 1997, 9, 1710-1712.
-
(1997)
Chem. Mater.
, vol.9
, pp. 1710-1712
-
-
Lee, J.K.1
Yoo, D.2
Rubner, M.F.3
-
22
-
-
0032138041
-
-
Wu, A. P.; Lee, J.; Rubner, M. F. Thin Solid Films 1998, 329, 663-667.
-
(1998)
Thin Solid Films
, vol.329
, pp. 663-667
-
-
Wu, A.P.1
Lee, J.2
Rubner, M.F.3
-
23
-
-
0001424461
-
-
Lee, J. K.; Yoo, D. S.; Handy, E. S.; Rubner, M. F. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 1686-1688.
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.69
, pp. 1686-1688
-
-
Lee, J.K.1
Yoo, D.S.2
Handy, E.S.3
Rubner, M.F.4
-
24
-
-
0032567207
-
-
Lyons, C. H.; Abbas, E. D.; Lee, J. K.; Rubner, M. F. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12100-12107.
-
(1998)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.120
, pp. 12100-12107
-
-
Lyons, C.H.1
Abbas, E.D.2
Lee, J.K.3
Rubner, M.F.4
-
25
-
-
0033553108
-
-
Handy, E. S.; Pal, A. J.; Rubner, M. F. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 1, 3525-3528.
-
(1999)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.121
, Issue.1
, pp. 3525-3528
-
-
Handy, E.S.1
Pal, A.J.2
Rubner, M.F.3
-
26
-
-
0033606270
-
-
Wu, A.; Yoo, D.; Lee, J. K.; Rubner, M. F. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 4883-4891.
-
(1999)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.121
, pp. 4883-4891
-
-
Wu, A.1
Yoo, D.2
Lee, J.K.3
Rubner, M.F.4
-
28
-
-
0039806298
-
-
Rudmann, H.; Kaplan, L.; Sevian, H.; Rubner, M. F. Abstr. Pap. - Am. Chem. Soc. 2000, 220, 169-PMSE.
-
(2000)
Abstr. Pap. - Am. Chem. Soc.
, vol.220
-
-
Rudmann, H.1
Kaplan, L.2
Sevian, H.3
Rubner, M.F.4
-
30
-
-
0037140790
-
-
Buda, M.; Kalyuzhny, G.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 6090-6098.
-
(2002)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.124
, pp. 6090-6098
-
-
Buda, M.1
Kalyuzhny, G.2
Bard, A.J.3
-
31
-
-
0036570219
-
-
Rudmann, H.; Shimada, S.; Rubner, M. F. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 4918-4921.
-
(2002)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.124
, pp. 4918-4921
-
-
Rudmann, H.1
Shimada, S.2
Rubner, M.F.3
-
34
-
-
0037128655
-
-
Bernhard, S.; Gao, X. C.; Malliaras, G. G.; Abruna, H. D. Adv. Mater. 2002, 14, 433-436.
-
(2002)
Adv. Mater.
, vol.14
, pp. 433-436
-
-
Bernhard, S.1
Gao, X.C.2
Malliaras, G.G.3
Abruna, H.D.4
-
35
-
-
0036677525
-
-
Rudmann, H.; Shimada, S.; Rubner, M. F.; Oblas, D. W.; Whitten, J. E. J. Appl. Phys. 2002, 92, 1576-1581.
-
(2002)
J. Appl. Phys
, vol.92
, pp. 1576-1581
-
-
Rudmann, H.1
Shimada, S.2
Rubner, M.F.3
Oblas, D.W.4
Whitten, J.E.5
-
40
-
-
0011335493
-
-
Tokel-Takvoryan, N. E.; Hemingway, R. E.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1973, 95, 2862-2863.
-
(1973)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.95
, pp. 2862-2863
-
-
Tokel-Takvoryan, N.E.1
Hemingway, R.E.2
Bard, A.J.3
-
42
-
-
0038415309
-
-
note
-
The same processes (PL recovery near anodes and permanent drop of PL intensty near cathodes) are also observed if a planar LEC is left without short circuiting. However, in this case the processes go much more slowly.
-
-
-
-
44
-
-
0001119974
-
-
Tachiyashiki, S.; Ikezawa, H.; Mizumachi, K. Inorg. Chem. 1994, 33, 623-625.
-
(1994)
Inorg. Chem.
, vol.33
, pp. 623-625
-
-
Tachiyashiki, S.1
Ikezawa, H.2
Mizumachi, K.3
|