Challenges and errors: Interpreting high resolution images in scanning tunneling microscopy

Progress in Surface Science

Volumn 71, Issue 5-8 SPEC, 2003, Pages 147-183

  Hofer, W A ^a  

^a UNIVERSITY OF LIVERPOOL   (United Kingdom)

Author keywords

Adhesion; Adsorbates on surfaces; Conductivity; Density functional calculations; Electronic structure; First principles simulations; Magnetic surfaces; Metal surfaces; Scanning tunneling microscopy; Semiconductor surfaces

Indexed keywords

ADHESION; ADSORPTION; COMPUTER SIMULATION; ELECTRONIC STRUCTURE; ERROR ANALYSIS; IMAGING TECHNIQUES; MAGNETIC PROPERTIES; PROBABILITY DENSITY FUNCTION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR MATERIALS;

MAGNETIC SURFACES;

SURFACE CHEMISTRY;

EID: 0038516872     PISSN: 00796816     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0079-6816(03)00005-4     Document Type: Conference Paper

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