Measurements of residual stresses in micron regions by using synchrotron excited Kossel diffraction

Crystal Research and Technology

Volumn 34, Issue 1, 1999, Pages 59-70

  Brechbuhl J ^a   Bauch, J ^a   Ullrich, H J ^a  

^a DRESDEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

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EID: 0038371978     PISSN: 02321300     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(sici)1521-4079(199901)34:1<59::aid-crat59>3.0.co;2-%23     Document Type: Article

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