|
Volumn 41, Issue 2, 2003, Pages 133-144
|
Comparison of X-ray line profile and dip test measurements of internal stresses during high temperature creep of copper;Porovnání vnitřních napětí při vysokoteplotním creepu mědi měřených rentgenograficky a technikou změn napětí
|
Author keywords
Composite model; Creep; Dip test; Internal stress; X ray diffraction profiles
|
Indexed keywords
CREEP;
HIGH TEMPERATURE EFFECTS;
RESIDUAL STRESSES;
STRAIN RATE;
X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;
DIP TESTS;
POLYCRYSTALLINE MATERIALS;
|
EID: 0038215624
PISSN: 0023432X
EISSN: None
Source Type: Journal
DOI: None Document Type: Article |
Times cited : (2)
|
References (20)
|