Sputtered silver oxide layers for surface-enhanced Raman spectroscopy

Applied Physics Letters

Volumn 79, Issue 5, 2001, Pages 620-622

  Buchel D ^a   Mihalcea, C ^a   Fukaya, T ^a   Atoda, N ^a   Tominaga, J ^a   Kikukawa, T ^b   Fuji, H ^c  

^a NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY AIST   (Japan)

^b TDK CORPORATION   (Japan)

^c SHARP CORPORATION   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0037868562     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1389513     Document Type: Article

References (15)

1. M. Fleischmann, J. P. Hendra, and A. J. McQuillan, Chem. Phys. Lett. 26, 163 (1974).
2. J. A. Creighton, C. G. Blatchford, and M. G. Albrecht, J. Chem. Soc., Faraday Trans. 2, 790 (1979).
3. K. Kneipp, Y. Wang, H. Kneipp, L. T. Perelman, I. Itzkan, R. R. Dasari, and M. S. Feld, Phys. Rev. Lett. 78, 1667 (1997).
4. S. Nie and S. R. Emory, Science 275, 1102 (1997).
5. T. Vo-Dinh, M. Y. K. Hiromoto, R. L. Begun, and G. M. Moody, Anal. Chem. 56, 1667 (1984).
6. M. G. Albrecht and J. A. Creighton, J. Am. Chem. Soc. 99, 5215 (1977).
7. L. M. Sudnik, K. L. Norrod, and K. L. Rowlen, Appl. Spectrosc. 50, 422 (1996).
8. P. F. Liao, J. G. Bergman, D. S. Chemla, A. Wokaun, J. Melngailis, A. M. Hawryluk, and N. P. Economou, Chem. Phys. Lett. 82, 355 (1981).
9. H. Fuji, J. Tominaga, L. Men, T. Nakano, H. Katayama, and N. Atoda, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 980 (2000).
10. J. Tominaga, J. H. Kim, D. Büchel, L. Men, H. Fukuda, and T. Nakano, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 40, 1831 (2001).
11. Y.-S. Li, J. Raman Spectrosc. 25, 795 (1994).
12. J. C. Tsang, J. E. Demuth, P. N. Sanda, and J. R. Kirtley, Chem. Phys. Lett. 76, 54 (1980).
13. H. K. Yu, J. M. Rhee, Y. Lee, K. Lee, and S.-C. Yu, Langmuir 17, 52 (2001).
14. D. Büchel, J. Tominaga, T. Fukaya, and N. Atoda, J. Magn. Soc. Jpn. 25, 240 (2001).
15. T. Watanabe, O. Kawanami, and K. Honda, Chem. Phys. Lett. 102, 565 (1983).