Atomic force microscopy investigation of the growth of different alkylsiloxane monolayers from highly concentrated solutions

Langmuir

Volumn 19, Issue 9, 2003, Pages 3741-3746

  Foisner, Johann ^a   Glaser, Andreas ^a   Kattner, Juergen ^a   Hoffmann, Helmuth ^a   Friedbacher, Gernot ^a  

^a VIENNA UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Austria)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADSORPTION; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELLIPSOMETRY; SILICONES; SOLUTIONS; TOLUENE;

FLAT FILMS;

SELF ASSEMBLY;

EID: 0037666425     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la026646h     Document Type: Article

References (24)

1. Schwartz, D. K.; Steinberg, S.; Israelachvili, J.; Zasadzinski, J. A N. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 3354.
2. Schreiber, F. Prog. Surf. Sci. 2000, 65, 151.
3. Ulman, A. Chem. Rev. 1906, 96, 1533.
4. Allara, D. L.; Parikh, A. N.; Rondelez, F. Langmuir 1995, 11, 2357.
5. Valiant, T.; Brunner, H.; Mayer, U.; Hoffmann, H.; Leitner, T.; Resch, R.; Friedbacher, G. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7190.
6. Parikh, A. N.; Schivley, M. A.; Koo, E.; Aurentz, D.; Mueller, K.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 3135.
7. Wassermann, S. R.; Whitesides, G. M.; Tidswell, I. M.; Ocko, B. M.; Pershan, P. S.; Axe, J. D. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 5852.
8. Tidswell, I. M.; Rabedeau, T. A.; Pershan, P. S.; Kosowsky, S. D.; Folkers, J. P.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 95 (4), 2854.
9. Brunner, H.; Valiant, T.; Mayer, U.; Hoffmann, H. J. Colloid Interface Sci. 1999, 212, 545.
10. Carraro, C.; Yauw, O. W.; Sung, M. M.; Maboudian, R. J. Phys. Chem. B 1988, 102 (23), 4441.
11. Resch, R.; Grasserbauer, M.; Friedbacher, G.; Valiant, T.; Brunner, H.; Mayer, U.; Hoffmann, H. Appl. Surf. Sci. 1999, 140, 168.
12. Woodward, J. T.; Doudevski, I.; Sikes, H. D.; Schwartz, D. K. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 7535.
13. Ho, M.; Pemberton, J. E. Anal. Chem. 1998, 70, 4915.
14. Kluth, G. J.; Sung, M. M.; Maboudian, R. Langmuir 1997, 13, 3775.
15. Leitner, T.; Friedbacher, G.; Valiant, T.; Brunner, H.; Mayer, U.; Hoffmann, H. Mikrochim. Acta 2000, 133, 331.
16. Brunner, H.; Valiant, T.; Mayer, U.; Hoffmann, H.; Basnar, B.; Valiant, M.; Friedbacher, G. Langmuir 1999, 15, 1899.
17. Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Azuz, I. B.; Rondelez, F. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7577.
18. Rye, R. R. Langmuir 1997, 13, 2588.
19. Bierbaum, K.; Grunze, M.; Baski, A. A.; Chi, L. F.; Schrepp, W.; Fuchs, H. Langmuir 1995, 11, 2143.
20. Valiant, T.; Kattner, J.; Brunner, H.; Mayer, U.; Hoffmann, H. Langmuir 1999, 15, 5339.
21. Hoffmann, H.; Mayer, U.; Krischanitz, A. Langmuir 1995, 11, 1304.
22. McCrackin, F.; Passaglia, E.; Stromberg, R.; Steinberg, H. J. Res. Natl. Bur. Stand., Sect. A 1963, 67, 363.
23. Bunker, B. C.; Carpick, R. W.; Assink, R. A.; Thomas, M. L.; Hankins, M. G.; Voigt, J. A.; Sipola, D.; de Boer, M. P.; Gulley, G. L. Langmuir 2000, 16, 7742.
24. Israelachvili, J. Intermolecular and surface forces. 2nd ed.; Academic Press: London, 1991.