Optical and opto-electronic properties of polycrystalline Cd0.96Zn0.04 Te thin films

Crystal Research and Technology

Volumn 38, Issue 6, 2003, Pages 479-487

  Sridharan, M ^a   Narayandass, Sa K ^a   Mangalaraj, D ^a   Lee, Hee Chul ^b  

^a BHARATHIAR UNIVERSITY   (India)

^b Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

Author keywords

Cd0.96Zn0.04Te; Photoluminescence; Spectroscopic ellipsometry; Thin films; Vacuum evaporation; XRD

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CADMIUM COMPOUNDS; GLASS; POLYCRYSTALLINE MATERIALS; RUTHERFORD BACKSCATTERING SPECTROSCOPY; SURFACES;

DIELECTRIC FUNCTIONS;

THIN FILMS;

EID: 0037534448     PISSN: 02321300     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/crat.200310060     Document Type: Article

References (33)

1. D. R. Yoder-Short, U. Debska, J. K. Frudyna, J. Appl. Phys. 58, 4056. (1985).
2. M. G. Peters, A. L. Fahrenbruch, R. H. Bube, J. Vac. Sci. and Technol. A6, 3098 (1988).
3. S. Sen, W. H. Konkel, S. J. Tighe, L. G. Bland, S. R. Sharma, R. E. Taylor, J. Cryst. Growth 86, 111 (1988).
4. T. Thio, J. W. Bennett, D. J. Chadi, R. A. Linke, P. Beela, J. Cryst. Growth 159, 345 (1996).
5. T. S. Lee, K. K. Choi, Y. T. Jeoung, H. K. Kim, J. M. Kim, Y. H. Kim, J. M. Chang, W. S. Song, S. U. Kim, M. J. Park, S. D. Lee, J. Electronic Mater. 26, 552 (1997).
6. T.S. Lee, Y. T. Jyoung, H. K. Kim, J. M. Kim, S. J. Song, S. Y. Ann, Y. J. Lee, Y. H. Kim, S. U. Kim, M. J. Park, S. D. Lee, S. H. Sun, Proceedings of SPIE 3436, 67 (1998).
7. J. Lee, N. C. Gills, J. Appl. Phys. 78, 1191 (1995).
8. P. Lautenschlager, S. Logothetidis, L. Vina, M. Cardona, Phys. Rev. B32, 3811 (1985).
9. K. Kumazaki, L. Vina, C. Umbach, M. Cardona, Phys. Stat. Sol. B 156, 371 (1989).
10. S. M. F. Nee, Appl. Opt. 27, 2819 (1988).
11. D. E. Aspnes, A. A. Studna, E. Kirsborn, Phys. Rev. B29, 768 (1984).
12. K. Prasada Rao, O. Md. Hussain, B. Srinivasalu Naidu. P. Jayarama Reddy, Advanced Materials for Optics and Electronics 7, 109 (1997).
13. B. Samantha, S. L. Sharma, A. K. Chaudhuri, Vacuum 46, 739 (1995).
14. K. Prasada Rao, O. Md. Hussain, K. T. R. Reddy, P. S. Reddy, S. Uthanna, B. S. Naidu, P. Jayarama Reddy, Optical Materials 5, 63 (1996).
15. H. S. Soliman, E. M. Allan, A. A. El-Shazly. J. Mater. Sci. in Electronics. 7, 233 (1996).
16. A. M. Ibrahim, Vacuum 48, 5 (1998).
17. G. Harbeke, in Optical Properties of Solids, edited by Abeles. F., North-Holland, Amsterdam (1972) p.21.
18. K. Sato, S. Adachi, J. Appl. Phys. 73, 926 (1993).
19. S. Adachi, K. Kimura, Jpn. J. Appl. Phys. 32, 3496 (1993).
20. J. P. Walter, M. L. Cohen, Phys. Rev. B1, 2661 (1970).
21. M. Cardona, D. L. Greenaway, Phys. Rev. 131, 98 (1963).
22. S. Ninomia, A. Adachi, J. Appl. Phys. 78, 4681 (1995).
23. K. Suzuki, S. Adachi, J. Appl. Phys. 83, 1018 (1998).
24. J. C. Manifacier, J. Gasiot, J. P. Fillard, J. Phys. E9, 1002 (1976).
25. U. Pal, R. Silva-Gonzalez, G. Martinez-Montes, M. Gracia-Jimenez, M. Vidai, S. Torres, Thin Solid Films 305, 345 (1997).
26. S. Choudhuri, S. K. Das, A. K. Pal, Thin Solid Films 147, 9 (1987).
27. N. C. Giles-Taylor, R. N. Bicknell, D. K. Blanks, T. H. Myers, J. F. Schetzina, J. Vac. Sci. and Technol. A3, 76 (1985).
28. C. Mikkelsen, J. B. Boyce, Phys. Rev. Lett. 49, 1412 (1982).
29. A. Molva, K. Saminadayar, J. L. Pautrat, E. Ligeon, Solid State Commun. 48, 955 (1983).
30. H. A. Mar, N. Salanskg, J. Appl. Phys. 56, 2369 (1984).
31. W. J. Choyke, M. G. Burke, Z. C. Feng, M. Hanes, A. Mascarenhas, in Defects in Semiconductors, edited by Von Bardeleben HJ. Schetzina. Vol 10-11 (1986) p-769.
32. F. P. Doty, J. F. Butler, J. F. Schetzina, A. K. Bowers, J. Vac. Sci. and Technol. B10, 1418 (1992).
33. E. Khawaja, S. G. Tomlin, J. Phys. D: Appl. Phys. 8, 581 (1975).