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Volumn 84, Issue 21, 2000, Pages 4946-4949

Extraction current transients: New method of study of charge transport in microcrystalline silicon

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EID: 0037511140     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.84.4946     Document Type: Article
Times cited : (399)

References (6)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.