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Volumn , Issue 1, 2003, Pages 25-

Principles of force-distance curve determination by atomic force microscopy

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EID: 0037218483     PISSN: 10011250     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.