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Volumn 88, Issue 20, 2002, Pages 2068011-2068014

Imaging subsurface reflection phase with quantized electrons

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ANNEALING; ELECTRONS; EPITAXIAL GROWTH; IMAGING TECHNIQUES; INTERFACES (MATERIALS); NANOSTRUCTURED MATERIALS; QUANTUM THEORY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

EID: 0037141316     PISSN: 00319007     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.88.206801     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.