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Volumn 74, Issue 22, 2002, Pages 5711-5716

Principal component analysis of TOF-SIMS images of organic monolayers

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TOPOGRAPHY;

EID: 0037112380     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac020311n     Document Type: Article
Times cited : (92)

References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.