Effect of temperature and cubic anisotropy on the switching field of cylindrical Ni particles

Journal of Applied Physics

Volumn 92, Issue 2, 2002, Pages 1018-1023

  Hwang, M ^a   Shima, M ^a   Ross, C A ^a   Seberino, C ^b   Bertram, H N ^b  

^a Massachusetts Institute of Technology Cambridge   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CALCULATED VALUES; EFFECT OF TEMPERATURE; LOW TEMPERATURES; MICROMAGNETIC MODELS; NI PARTICLES; NICKEL CYLINDERS; SWITCHING FIELD; SWITCHING FIELD DISTRIBUTION;

ASPECT RATIO; MAGNETOCRYSTALLINE ANISOTROPY;

SWITCHING;

EID: 0037100903     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1484223     Document Type: Article

References (27)

1. E. C. Stoner, F. R. S. Wohlfarth, and E. P. Wolhfarth, Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A 240, 599 (1948). ptr PTRMAD 0962-8428
2. E. H. Frei, S. Shtrikman, and D. Treves, Phys. Rev. 106, 446 (1957). phr PHRVAO 0031-899X
3. M. E. Schabes, J. Magn. Magn. Mater. 95, 249 (1991). jmm JMMMDC 0304-8853
4. M. E. Schabes and H. N. Bertram, J. Appl. Phys. 64, 5832 (1988). jap JAPIAU 0021-8979
5. D. Fredkin and T. R. Koehler, J. Appl. Phys. 67, 5544 (1990). jap JAPIAU 0021-8979
6. T. Schrefl, J. Fidler, K. J. Kirk, and J. N. Chapman, J. Appl. Phys. 85, 6169 (1999). jap JAPIAU 0021-8979
7. A. J. Newell and R. T. Merrill, J. Appl. Phys. 84, 4394 (1998). jap JAPIAU 0021-8979
8. C. A. Ross, M. Hwang, M. Shima, J. Y. Cheng, M. Farhoud, T. A. Savas, H. I. Smith, W. Schwarzacher, F. M. Ross, M. Redjdal, and F. B. Humphrey, Phys. Rev. B 65, 144417 (2002). prb PRBMDO 0163-1829
9. C. A. Ross, M. Farhoud, M. Hwang, H. I. Smith, M. Redjdal, and F. B. Humphrey, J. Appl. Phys. 89, 1310 (2001). jap JAPIAU 0021-8979
10. G. A. Gibson and S. Schultz, J. Appl. Phys. 73, 4516 (1993). jap JAPIAU 0021-8979
11. C. Seberino and H. N. Bertram, J. Appl. Phys. 85, 5543 (1999). jap JAPIAU 0021-8979
12. R. Ferré, K. Ounadjela, J. M. George, L. Piraux, and S. Dubois, Phys. Rev. B 56, 14066 (1997). prb PRBMDO 0163-1829
13. W. Wernsdorfer, B. Doudin, D. Mailly, K. Hasselbach, A. Benoit, J. Meier, J. P. Ansermet, and B. Barbara, Phys. Rev. Lett. 77, 1873 (1996). prl PRLTAO 0031-9007
14. W. Wernsdorfer, E. Bonet Orozco, K. Hasselbach, A. Benoit, B. Barbara, N. Demoncy, A. Loiseau, H. Pascard, and D. Mailly, Phys. Rev. Lett. 78, 1791 (1997). prl PRLTAO 0031-9007
15. S. Wirth, M. Field, D. D. Awschalom, and S. von Molnar, Phys. Rev. B 57, R14028 (1998). prb PRBMDO 0163-1829
16. R. O'Barr, M. Lederman, S. Schultz, W. Xu, A. Scherer, and R. J. Tonucci, J. Appl. Phys. 79, 5303 (1996). jap JAPIAU 0021-8979
17. E. D. Boerner and H. N. Bertram, IEEE Trans. Magn. 33, 3052 (1997). emg IEMGAQ 0018-9464
18. R. C. O'Handley, Modern Magnetic Materials: Principles and Applications (Wiley, New York, 2000).
19. C. A. Ross, H. I. Smith, T. A. Savas, M. Schattenburg, M. Farhoud, M. Hwang, M. Walsh, M. C. Abraham, and R. J. Ram, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 3168 (1999). jvb JVTBD9 0734-211X
20. M. Shima, M. Hwang, M. Farhoud, T. A. Savas, A. Tkaczyk, H. I. Smith, C. A. Ross, and W. Schwarzacher, Proc.-Electrochem. Soc. PV2000-29, 111 (2001). pes PESODO 0161-6374
21. C. A. Ross, M. Hwang, M. Shima, H. I. Smith, M. Farhoud, T. A. Savas, W. Schwarzacher, J. Parrochon, W. Escoffier, H. N. Bertram, F. B. Humphrey, and M. Redjdal, J. Magn. Magn. Mater. (to be published).
22. M. Hwang, M. Farhoud, Y. Hao, M. Walsh, T. A. Savas, H. I. Smith, and C. A. Ross, IEEE Trans. Magn. 36, 3173 (2000). emg IEMGAQ 0018-9464
23. M. Hwang, M. C. Abraham, T. A. Savas, H. I. Smith, C. A. Ross, and R. J. Ram, J. Appl. Phys. 89, 5667 (2001). jap JAPIAU 0021-8979
24. M. C. Abraham, H. Schmidt, T. A. Savas, H. I. Smith, R. J. Ram, and C. A. Ross, J. Appl. Phys. 87, 5108 (2000). jap JAPIAU 0021-8979
25. C. Seberino and H. N. Bertram, IEEE Trans. Magn. 33, 3055 (1997). emg IEMGAQ 0018-9464
26. C. Seberino and H. N. Bertram, IEEE Trans. Magn. 37, 1078 (2001). emg IEMGAQ 0018-9464
27. H. N. Bertram and C. Seberino, J. Magn. Magn. Mater. 193, 388 (1999). jmm JMMMDC 0304-8853