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Volumn 65, Issue 13, 2002, Pages 1345111-1345118

Global trends in the interplane penetration depth of layered superconductors

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CHALCOGEN; COPPER DERIVATIVE; RUTHENIUM DERIVATIVE; STRONTIUM;

EID: 0036538593     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.