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Volumn 31, Issue 3, 2002, Pages 143-146

Introduction to special issue on DAC modelling and testing

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EID: 0036533034     PISSN: 02632241     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0263-2241(01)00025-2     Document Type: Editorial
Times cited : (2)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.