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Volumn 73, Issue 2 II, 2002, Pages 846-

Test of negative ion beams from a microwave ion source with a charge exchange canal for accelerator mass spectrometry applications

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EID: 0036472649     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1430517     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.