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Volumn , Issue , 2002, Pages 76-

On-chip thermal engineering for peta-scale integration

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COMPUTER AIDED DESIGN; COMPUTER SIMULATION; ELECTROMIGRATION; ENERGY UTILIZATION; THERMAL CONDUCTIVITY; THERMAL EFFECTS;

EID: 0036374230     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1145/505388.505407     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.