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Volumn 65, Issue 1, 2002, Pages 121041-121044

Strain-induced diffuse dielectric anomaly and critical point in perovskite ferroelectric thin films

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PEROVSKITE;

EID: 0036149167     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.65.012104     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.