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Volumn 114, Issue 791, 2002, Pages 98-111

Advanced exposure-time calculations: Undersampling, dithering, cosmic rays, astrometry, and ellipticities

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EID: 0036108643     PISSN: 00046280     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1086/337997     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.