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Volumn 194, Issue 4, 2002, Pages 393-398

Measurement of the half-life of 79Se with PX-AMS

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MASS SPECTROMETRY; PARTICLE ACCELERATORS; SELENIUM; X RAYS;

EID: 0036036479     PISSN: 0168583X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0168-583X(02)01031-5     Document Type: Article
Times cited : (29)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.