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Volumn 47, Issue 3, 2002, Pages 415-419

Rietveld analysis of X-ray diffraction pattern from β-Ta2O5 oxide

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OXIDE; TANTALUM;

EID: 0036018382     PISSN: 10637745     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/1.1481927     Document Type: Article
Times cited : (95)

References (8)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.