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Volumn 35, Issue 1, 2002, Pages 3-5

The study of crystalline etch products of CR-39

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CRYSTALLINE MATERIALS; ETCHING; RADIATION DETECTORS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

EID: 0036006489     PISSN: 13504487     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1350-4487(01)00259-1     Document Type: Article
Times cited : (4)

References (8)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.